如何提高方法耐用性、快速回升檢測(cè)柱性能及更有效率地處理數(shù)據(jù)來(lái)突破農(nóng)殘快檢遇到的“中梗阻”問(wèn)題，是農(nóng)殘方法包是否有效的硬核拷問(wèn)，也是使用者的后顧之憂。

　　方法耐用性：分析保護(hù)劑方案，提高了方法耐用性，不必頻繁維護(hù)進(jìn)樣口及離子源，有效抑制基質(zhì)效應(yīng)，改善部分農(nóng)殘方法學(xué)指標(biāo)，成本很低；

　　回升儀器性能：可選“增值包”：長(zhǎng)達(dá)16年的技術(shù)，5分鐘內(nèi)完成離子源及色譜柱更換，無(wú)需借助反吹或阻尼柱。

　　1.保留時(shí)間核查：保留時(shí)間是定性的重要依據(jù)。準(zhǔn)確的保留時(shí)間能夠?yàn)楹罄m(xù)樣品是否檢出的快速判斷提供重要依據(jù)。鼠標(biāo)拖拽峰標(biāo)簽，快速更新農(nóng)殘保留時(shí)間，無(wú)需手動(dòng)輸入。

　　2.內(nèi)標(biāo)積分核查：采用內(nèi)標(biāo)法定量。內(nèi)標(biāo)積分的準(zhǔn)確性直接影響標(biāo)曲及定量結(jié)果。對(duì)內(nèi)標(biāo)的保留時(shí)間與峰面積做折線圖，可實(shí)現(xiàn)序列內(nèi)的全局概覽，從而快速排查出問(wèn)題。

　　3.標(biāo)準(zhǔn)曲線核查：在保留時(shí)間及內(nèi)標(biāo)核查無(wú)誤后，依據(jù)線性相關(guān)系數(shù)、回讀值及新增的“Y軸離散度”評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)曲線的質(zhì)量，通過(guò)“基質(zhì)背景”指標(biāo)，可發(fā)現(xiàn)用于配制標(biāo)曲的基質(zhì)是否有農(nóng)殘快檢本底出現(xiàn)。

　　4.樣品定量分析：之前一步已將農(nóng)殘保留時(shí)間準(zhǔn)確化，因此在瀏覽樣品數(shù)據(jù)時(shí)，可通過(guò)保留時(shí)間差值快速判斷是否檢出。離子對(duì)及其比率可進(jìn)一步輔助判斷。其次，同一農(nóng)殘?jiān)诓煌瑯悠分械恼劬€圖，或者同一樣品所有農(nóng)殘的折線圖可快速找出超標(biāo)農(nóng)殘。之后，在報(bào)告中，可實(shí)現(xiàn)通過(guò)這些變量來(lái)過(guò)濾不符合要求的化合物。